低温挠卷试验装置
导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后,立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料,则先行卷绕,再冷却相同之时间后,立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料,检视其表面是否产生龟裂、裂痕。

型号:HK-DWZZ-01

时间:2024-09-04

访问量:5822

Update time:[2012-02-07]
特色 参数 配件

一,低温挠卷试验装置标准:JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE

二,说明:

导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后,立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料,则先行卷绕,再冷却相同之时间后,立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料,检视其表面是否产生龟裂、裂痕。

三,技术参数:

温度

Temp.

冷却方式

Cooling method

降温速度

Cooling speed

精度

Accuracy

材质

Material

圆杆

Rod

内箱

Test chamber

线套

体积

Dimension

(W×D×H)

重量

Weight

电源

Power

-40~+130℃

气冷式

Air Frozen

常温

Room temp. ~-40℃,

60min

±2℃

内外箱,

SUS304#

Φ4.0~37.5mm,共12支

45×50×50cm

Φ3.5/6/

10/12/

16mm

各2只

100×80×135cm

262kg

1

AC 220V 30A

 

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